產(chǎn)品[
數(shù)字IC測(cè)試儀 型號(hào)：NICT-33C
]資料
產(chǎn)品名稱:
數(shù)字IC測(cè)試儀 型號(hào)：NICT-33C
產(chǎn)品型號(hào):
NICT-33C
產(chǎn)品展商:
中慧
產(chǎn)品文檔:
*相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
可測(cè)1300種器件。
可對(duì)器件好壞判別，型號(hào)判別，老化測(cè)試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入。
數(shù)字IC測(cè)試儀 型號(hào)：NICT-33C
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
可測(cè)1300種器件。
可對(duì)器件好壞判別，型號(hào)判別，老化測(cè)試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入。
主要功能
器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。
器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
器件代換查詢：儀器可顯示有*邏輯功能**、引腳排列**的器件型號(hào)。
內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。
可測(cè)器件（1300多種）
數(shù)碼管系列：0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]；0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。