NKCV/HS2100F 數顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS2100F

概 述：
  本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、*損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。是材料保護和生產控制儀器。 
適用范圍： 　　
  NKVV/HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可*損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 
主要功能： 
可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量；
三種校準方法： 一點校準、二點校準、基本校準；
顯示分辨率： 0.1μm（測量范圍小于100μm） 
1μm （測量范圍大于100μm） 
有兩種工作方式：直接方式和成組方式
有兩種測量方式：連續測量和單次測量
有兩種關機方式：手動關機和自動關機
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警，并可用直方圖對一批測量值進行分析；
有刪除功能：對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理；
打印功能：可打印測量測量值、統計值、限界、直方圖 
測量范圍： （1）F400探頭、N400探頭：0—400μm
（2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭：0—1250μm
（3）F10探頭：0—10000μm
（4）CN02探頭：10-200μm（根據測量要求選用不同探頭） 
測量精度： 不同探頭精度要求不同
（1）F400探頭、N400探頭：一點校準：（2%+0.７）；二點校準：（1%+0.７）
（2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭：一點校準：（2%+1）；二點校準：（1%+1）
（3）F10探頭：一點校準：（2%+10）；二點校準：（1%+10） 
使用溫度： 0～40℃ 
外型尺寸： 150×80×30m 
重 量： 250g